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產(chǎn)品中心

產(chǎn)品型號:PZ-3500CS


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關于我們

北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創(chuàng)思),始終專注于精密影像測量領域的影像分析及測量軟件的設計與研發(fā)。品智創(chuàng)思公司從事表面科學、分析儀器、計量檢測設備及實驗室儀器系統(tǒng)集成商;致力于為工業(yè)制造和科研領域用戶提供顯微分析,圖像分析,缺陷識別和檢驗,無損探查,品質(zhì)管理,計量,過程控制等專業(yè)檢測設備,依托強有力的技術資源及完善專業(yè)的售后服務與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務及全面地解決方案。公司致力于提高工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量品質(zhì)!迄今為止,品智創(chuàng)思已為多家用戶提供產(chǎn)品檢測設備,用戶遍布機械、電子...
技術文章
液體表界面張力是液體表面分子間相互作用力的表現(xiàn),直接影響到液體的物理特性和應用領域,如涂料、清潔劑、藥物制劑等。準確測量液體的表界面張力至關重要,而液體表界面張力測量儀的校準與精度則是保證測量結(jié)果可靠性的關鍵因素。本文將探討液體表界面張力測量儀的校準方法以及影響測量精度的主要因素。一、工作原理一般采用幾種不同的測量方法,包括但不限于杜洛法和滴重法。這些方法通過不同的物理原理來測量液體表面的張力,例如利用懸掛在液體表面上的環(huán)形物體的力量,或是測量液體滴落時的重量變化,從而計算出...
非接觸式掃描是一種基于光、聲、電磁等物理現(xiàn)象與物體表面仿生相互作用的三維坐標采集技術,屬于工業(yè)檢測與數(shù)字化處理設備范疇,主要應用于逆向工程、文物保護和工業(yè)精密測量領域。其核心技術包括結(jié)構(gòu)光測距法、激光三角法及激光干涉掃描法,通過非接觸方式避免物理損傷,適用于古籍、膠片、大型字畫等脆弱或特殊材質(zhì)對象的數(shù)字化處理。簡介非接觸式掃描方法由于其高效性和廣泛的適應性,得到了廣泛的研究,并且克服了接觸式掃描的一些缺點,在逆向工程領域應用日益廣泛。非接觸式掃描常見的是通過光學掃描,從而得到...
表面界面張力儀是一種用于測量液體表面/界面張力、動態(tài)接觸角、表面自由能及其分量、臨界膠束濃度的精密儀器。該儀器具備高精度電動力學補償稱重系統(tǒng)、軟件控制樣品臺定位等自動化技術,廣泛應用于化工、環(huán)保等領域。根據(jù)不同需求提供多種測量精度與功能配置功能與應用表面界面張力儀的主要功能包括測量液體的表面/界面張力、動態(tài)接觸角、表面自由能及其分量,以及臨界膠束濃度(CMC)。該儀器廣泛應用于化工產(chǎn)品研發(fā)、環(huán)保材料分析等領域,為表面活性劑研究、乳液制備等提供數(shù)據(jù)支持技術特點該儀器具有以下關鍵...
表面張力儀是一種專業(yè)用于測量液體表面張力值的測定儀器。表面張力是作用于液體表面,使液體表面積縮小的力。表面張力儀通過多種方法如鉑金板法、鉑金環(huán)法、最大氣泡法、懸滴法、滴體積法和滴重法等原理,精確測定液體的表面張力值。專業(yè)用于測量液體表面張力值的專業(yè)測量/測定儀器,通過白金板法(分吊片法以及白金板法而不同)、白金環(huán)法、最大氣泡法、懸滴法、滴體積法以及滴重法等原理,實現(xiàn)準確液體的表面張力值的測量。同時,利用軟件技術,可能測得隨時間變化而變化的表面張力值。作用于液體表面,使液體表面...
芯片引腳缺陷檢測的重要性在芯片的制造過程中,芯片引腳是芯片內(nèi)部電路與外圍電路的連接橋梁,扮演著芯片接口的角色。引腳若出現(xiàn)任何缺陷,如缺失、破損、位置偏差等,都可能導致貼片焊接時出現(xiàn)虛焊、虛接或漏接等問題,進而影響芯片的整體可靠性。因此,為確保貼片焊接工序的順利進行,對芯片引腳的缺陷進行嚴格檢測顯得至關重要。隨著芯片引腳寬度不斷縮小、引腳數(shù)量持續(xù)增加,傳統(tǒng)檢測方法面臨人工成本高、精度和效率低的問題,甚至可能對引腳造成二次損傷。因此,芯片廠商面臨著一項緊迫的任務:如何在芯片高速傳...
平整度檢驗是專門用于檢測各類IC芯片針腳及其平整度(水平直線度、共面度)、間隙、針腳寬度等參數(shù)的自動化檢測技術。該技術通過簡單設定即可實現(xiàn)自動識別與檢測,無需人員操作。平整度檢驗儀檢測精度可達0.01mm以上,支持預設平整度誤差范圍并輸出控制信號剔除不合格品。主要功能包括檢測針腳數(shù)量、測量pitch間隔/寬度/高度等幾何尺寸、分析針腳共線度等平整度指標。系統(tǒng)配備報警裝置及圖像存儲功能,基本信息播報編輯平整度檢驗儀圖像清晰直觀,可以方便快速準確的檢驗產(chǎn)品的平面度,明顯提高工作效...
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